基于背景-前景組成式建模的電路板異常檢測(cè)

摘要： 異常檢測(cè)的目標(biāo)是檢測(cè)眾多正常樣本中的異常樣本.在大數(shù)據(jù)時(shí)代，如何將異常檢測(cè)應(yīng)用于現(xiàn)實(shí)場(chǎng)景成為當(dāng)下需要著重思考的問(wèn)題之一.目前已有模型存在難以處理實(shí)際場(chǎng)景中遮擋、光照、色差等動(dòng)態(tài)干擾，無(wú)法快速遷移應(yīng)用場(chǎng)景等問(wèn)題.基于此，提出了一種基于背景-前景組成式建模的深度學(xué)習(xí)模型，用于檢測(cè)電路板場(chǎng)景中的異常物體.首先通過(guò)特征提取網(wǎng)絡(luò)將輸入圖像重構(gòu)為不包含異常物體的干凈背景圖像，并通過(guò)跳層連接... （共16頁(yè)）